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愛德萬T2000 8Gbps數位模組滿足高速測試需求

上網時間: 2012年12月24日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:T2000  8GDM  介面  高速測試  PCI-Express 

愛德萬測試公司推出 T2000 8GDM ,能滿足系統單晶片(SoC)裝置各式介面高速測試需求,包括序列式、平行式及記憶介面,如 PCI-Express 與雙倍資料傳輸率(DDR)連接等。

多功能 T2000 8GDM 可支援各種 SoC 介面測試,資料傳輸率高達8 Gbps,主要功能包括時脈資料回復(CDR)、抖動注入、I/O死帶消除、多重閃控作業等。此模組涵蓋在 T2000 增強型性能解決方案(EPP) 中,具功能性測試抽象化功能,將進一步縮短週期時間並簡化除錯。

愛德萬測試SoC測試事業體執行長暨執行副總裁Toshiyuki Okayasu博士表示:「全新 T2000 8GDM 的密度更高,效能更強大,支援多重時域高速介面的複雜 SoC 裝置測試,並具備專為系統層次的功能性測試所設計 FTA 功能,可望讓我們在此市場中擴大市佔率。」

愛德萬測試所研發的模組與測試機,不僅擁有高效能運作能力,更可提供高產能、多使用者環境以及並列同測功能,達到降低測試成本、加速上市的目標。





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