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新版JTAG標準號稱可為電子產業節省鉅額成本

上網時間: 2013年06月24日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:IEEE 1149.1  標準  新版  JTAG  測試 

IEEE公佈了更新版的 IEEE 1149.1-2013 「測試存取埠與邊界掃描架構標準(Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture)」,也就是由產業界熟知的 JTAG (Joint Test Action Group) 所負責管轄的標準;新版標準旨在藉由透過利用獨立於各家供應商、階層式的測試語言(hierarchical test languages),實現橫跨整個IC生命週期階段的測試重複使用(test re-use),為電子產業界大幅降低成本。

IEEE 1149.1 標準最初是在2001誕生,新版標準可讓關鍵領域的矽智財(IP)專門技術──例如如何配置一個迴反測試(loopback testing)應用的串行/解串器(serializer/deserializer,SERDES)──轉換成IP設計者與 IC設計者、印刷電路板(PCB)設計工程師、測試工程師都能用電腦讀取的格式,為整個供應鏈都帶來成本節約的效應。

IEEE 1149.1-2013估計可為電子產業界帶來的成本節約效應高達數十億美元,該標準定義了一個新的階層式程序定義語言(Procedural Definition Language,PDL)──是一種以Tcl為基礎的標準測試語言,階層擴展至原始邊界掃描敘述語言(Boundary Scan Description Language,BSDL),描述晶片上的IP測試資料暫存器(data register)。

此外有8個新的IC指令級選項,為板級測試的配置I/O提供基礎,可減緩在電路板等級重複測試IC時可能出現的假性故障(false failures),並透過電子晶片識別碼(Electronic Chip ID)回溯關聯至晶圓級測試結果。

現在,IP供應商能將IP測試介面以及如何運作IP的方法,以類似英文的語言建檔,而且所有的IC都只需要做一次,然後在IC與電路板等級以軟體工具重新指向(re-target)以上文件以進行測試;總之在新版的IEEE 1149.1中,工作小組聚焦於兩大重點:一是藉由新的PDL語言降低產業界成本,二是在IC的整個生命週期支援測試重複使用。

IEEE 1149.1-2013也提供與其他兩項重要產業標準的關鍵偕同效應,一是支援IEEE 1801-2013 「低功耗IC測試與驗證標準(Standard for Design and Verification of Low Power Integrated Circuits)」所規範的跨電源域分段式(segmented)晶片上測試資料暫存器。

其二是IEEE 1149.1-2013讓IP的描述與運作符合IEEE 1500-2005 「以嵌入式核心為基礎的IC可測試性方法標準(Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits)」所規範的架構。此外,新標準也加入了對IEEE 1500 Wrapper Serial Ports的支援。

編譯:Judith Cheng

(參考原文: IEEE 1149.1 'JTAG' revision could save billions,by Julien Happich)





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