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愛德萬全新T2000機台滿足SoC測試需求

上網時間: 2013年07月18日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:T2000  8GWGD  波形產生器  數位器  伺服器 

愛德萬測試(Advantest Corp.)推出全新 T2000 8GWGD 測試設備,提供結合每秒採樣速率達8Gsps的波形產生器和8GHz數位器的模組,可應用於 HDD 硬碟巨量儲存裝置中的系統單晶片(SoC)測試。

愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示,面對一日千里的雲端運算市場,客戶可透過愛德萬全新測試機台駕馭雲端運算數十億顆硬碟、全球無可計數的伺服器陣列。」

T2000 測試機台提供8GWGD (8Gsps 波形產生器 / 8GHz數位器模組) 與8GDM (8Gbps 數位模組),可處理儲存巨量資料的 SoC 內部高速 SerDes 實體層 (PHY) 介面與複雜高速的類比波形挑戰。

這套新模組可透過任意波形產生器(AWG)產生 PRML (Partial Response Maximum Likelihood,最大回應可能可能性) 波形等複雜訊號,及多種頻率的多頻波形,測試高速類比轉數位轉換器和類比前端設備 (包括前置放大器)。其獨特之處在於閘輸出可與 AWG 同步化,實現高精準度計時。

此套新模組的訊號擷取數位器可提升系統產能、執行高頻寬類比量測,同時也為視圖、上升/下降時間、時間傳播延遲量測、週期抖動(Cycle-to-Cycle Jitter)和累積性抖動(Long-Term Jitter) 提供測試解決方案。透過這些功能,客戶將能測試高速數位轉類比轉換器和前置放大器,及高速數位介面和鎖相迴路 (PLL) 設備。





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