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Advantest新一代SoC測試分類機問世

上網時間: 2013年12月27日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:愛德萬測試  Advantest  M4871  系統單晶片  分類機 

愛德萬測試(Advantest)推出最新一代系統單晶片元件測試分類機 M4871 ,現有客戶將可就地升級。這款全新M4871分類機除承襲愛德萬測試原有技術優勢外,並提供最新先進功能,不僅具備以愛德萬測試獨有溫控 (Tri-Temp) 技術所開發的高產能主動式熱控目視調準功能,所有資料也採全新視覺化架構,使用者只要透過網路就能即時監控測試機台生產進度。

為協助客戶提高測試良率、加快測試週期時間,新一代 M4871 分類機加入目視調準功能,其定位精確度可達低於0.3 mm ball/pad pitch,最適合處理微細間距元件,以及同時具有頂部和底部接觸結構的半導體元件。這項精度調準功能亦有助於縮短設定與校正時間,產能也將隨之提升。

此外,在閒置時間方面, M4871 也比過去縮短許多,有效測試作業時間一個月可多出20小時之多,這使得整體設備效能 (OEE) 和元件成本獲得大幅改善。舉例來說,由於M4871採用最新熱控技術「雙液設計」,卡料所造成的作業閒置只需耗費最短的清理時間;反觀其他採用反應室設計的分類機,從反應室冷卻、清理卡料,到恢復運作溫度,整個過程至少需耗費60分鐘以上。

不僅如此,M4871分類機的優勢更在於可廣泛因應各種溫度測試需求,在攝氏零下10度環境下,M4871分類機能夠連續14天不中斷運作,無需進行除霜,相對減少了系統定時維護工作,不必像目前使用液態氮進行冷卻除霜的分類機,每個月至少需要進行10次除霜,M4871分類機只需要進行2次即可。在除霜時間上,相較於市場其他同類產品需花費兩小時甚至更多時間,M4871系統只需花費不到10分鐘就能完成,大幅加快低溫測試所需的除霜處理週期時間。

新一代M4871分類機基本配置的並行同測能力為前一代的8倍,每小時總測試產量最高可達8,000個元件,現有客戶可直接就地升級,並行同測能力最高可提升32倍之多,充裕因應多接腳元件測試需求,同時也將降低耗電量、減少測試載具成本,並讓其他測試效能更上一層樓。M4871分類機預計於2014年第一季開始交貨給客戶。





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