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NI無線通訊量測與設計技術研討會即將登場

上網時間: 2014年04月16日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:無線測試  RF  研討會  量測  NI 

無線測試領域,設計端和量測端的溝通和驗證往往是工程師們耗費最多時間的環節。而在測試端, RF 領域工程師們所需要面臨的除了產品周期不斷的縮短,還需要再考慮到低成本、快速等需求。 NI 即將於4月24日與25日分別於新竹、台北舉辦「無線通訊量測與設計技術研討會」,歡迎 RF 領域工程師踴躍報名參加。

此次研討會將由工程師與無線通訊產業的專案角度,安排了豐富的講座內容:從射頻電路的設計、元件特性量測到成品驗證與量產測試,皆找來業界最具代表的講師從技術端以及所面臨到的挑戰一一為大家解答。同時在專業的市場分析到深入的技術議題,如 Envelope Tracking、天線設計量測、 802.11ac 量產測試手法等皆一次完整呈現。

此次活動在上午的專題演講中,將從設計端談起,由 AWR帶領大家從整合射頻設計、原型製作及量測,做一系列的新趨勢闡述;除此之外,更邀請到大廠 Broadcom 針對整體市場、產品剖析、及甫剛和 NI 簽訂的製造測試授權 (Manufacturing Test License,MTL) 等議題做深入的分享,同時IEK 的產業講師也將針對整體無線通訊市場未來趨勢做詳細解說。

本次活動詳情及報名網址請參考:http://taiwan.ni.com/events。





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