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安捷倫自動測試夾具移除選項加速非同軸元件量測

上網時間: 2014年05月29日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:自動測試夾具移除  AFR  PNA  網路分析儀  實體層測試系統 

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣佈推出功能強大的新型自動測試夾具移除(AFR)選項。該選項適用於 PNA 系列網路分析儀,並且具備過去只有安捷倫實體層測試系統(PLTS)軟體才提供的誤差修正技術,讓工程師能用業界最快、最簡單的方法,精準執行非同軸元件量測,進而節省可觀的時間和金錢。

目前許多元件都沒有同軸連接器,因而需使用測試夾具在同軸環境中進行量測。然而,工程師必須去除測試夾具效應,以確保待測物(DUT)的量測準確度。雖然工程師也可以透過 EM 模擬軟體的建模功能或是主機內建的多個校驗套件,來評估並去除測試夾具效應,但這些方法既複雜又費時。

適用於 PNA 的新型 AFR 選項讓工程師能更快速、準確地移除非同軸元件量測結果中,測試夾具所導致的誤差。而方便易用的5步驟指引精靈則可快速引導工程師完成必要的作業。此外,工程師可將解嵌入檔儲存為各種不同的格式,以便將來用於 PNA 、 PLTS 和先進設計系統(ADS)軟體。

使用 AFR 選項時,工程師首先必須透過連接測試夾具的參考平面,在同軸環境中進行校驗。接著代表測試夾具的雙埠直通連接或半終接(half terminated)之開路及短路標準參數模型將被量測。甚至可進行簡易單埠AFR,進行快速的測試夾具解嵌入,如此可在 DUT 安裝於開路校驗套件之前,對測試夾具進行實際量測。之後 AFR 選項還可自動進行特性分析並移除測試夾具的誤差。PLTS軟體現在也提供這項單埠 AFR 功能。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「新的 AFR 選項具有足以媲美機板上 TRL 校驗的準確度,而且更方便易用。對於從未使用過 AFR 的微波工程師而言,他們無需進行複雜的 EM 模擬或建構機板校驗套件,便可準確地修正測試夾具效應。而已經相當熟悉 AFR 的訊號完整性工程師,則可利用單埠功能,節省大量的量測時間。」

安捷倫新的 AFR 選項(選項007)適用於 PNA 系列網路分析儀。該選項現已開放訂購。

安捷倫將於6月1日至6日在IEEE MTT-S 2014國際微波研討會中展示新的 AFR 選項,並同時展出其他20套最新的設計和量測解決方案。安捷倫合作夥伴也將於展會中展出各式解決方案,包括建模和元件特性分析;半導體晶圓代工;IC;晶圓;PCB設計、測試和原型設計;天線量測系統和試驗室;以及客製系統。





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