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可測試性設計技術進軍汽車電子領域

上網時間: 2014年06月25日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:汽車電子  DFT  安全  明導國際  測試 

在積體電路(IC)設計中,可測試性設計(Design-for-test)技術有時會被忽略。但隨著人們對安全關鍵應用設備,尤其是汽車電子晶片,提出了新的需求,可測試性設計技術又再次受到重視。現在是推動可測試性設計技術的最好契機!

越來越多的處理器被運用於汽車的?車系統、發動機控制、抬頭顯示器、導航系統和圖像感測器等等。這是一個熱門的領域,但想要做好並不容易。這些晶片必須滿足非常高的品質和可靠性標準,所以晶片製造商也必須進行高水準的生產測試和系統內部測試。不僅如此,他們還必須在盡可能提升測試水準的同時,確保測試時間和成本不會增加。

如今有兩種測試方法被眾多安全關鍵設備開發商迅速採納:單元識別(Cell-Aware)自動測試向量生成(ATPG)法,及邏輯內建自測試綜合運用法(ATPG/LBIST hybrid)。單元識別測試法可實現每百萬缺陷數(DPM) 為零的目標。綜合測試法則通過將ATPG和LBIST 邏輯電路測試法相結合來提高測試品質和效率。

事實證明,單元識別 ATPG 測試法是唯一可以發現傳統方法檢測不出的缺陷的方法。它可以檢測出定值錯誤(stuck-at faults)、轉換錯誤(transition faults)和路徑延遲錯(path-delay faults)的測試方法發現不了的缺陷,因為這種針對對標準單元(standard cells)進行物理佈局時可能出現的實際缺陷進行模擬。

請下載完整版PDF文件:可測試性設計技術進軍汽車電子領域

作者:Ron Press / 明導國際(Mentor Graphics)





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