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安捷倫推出多通道天線校驗參考解決方案

上網時間: 2014年07月11日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:天線  相位陣列  模組化  DDC  校驗測試 

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣佈推出多通道天線校驗參考解決方案,可協助工程師在整合和製造過程中,全面進行大型多通道相位陣列天線的校驗和特性分析。安捷倫在年初提出模組化參考解決方案的新概念,而多通道天線校驗參考解決方案是該系列的第二位生力軍。這類靈活的參考解決方案內含硬體、軟體和量測技術等所有必要的測試元件。

安捷倫的多通道天線校驗參考解決方案可提高每秒的天線量測次數、提供多通道相位同調並聯量測,並且透過即時數位降頻(DDC)技術來大幅減少資料量。此外,該系統可快速整合入多通道天線校驗測試環境中,以便使用近場窄頻測試陣列,對接收器進行通道校驗。

完整的相位陣列天線包含數千個獨立的發射/接收模組,要逐一校驗這些模組非常費時費力,導致製造成本增加,而且無法有效提高產能。安捷倫新的參考解決方案可大幅縮短量測時間,並且增進測試系統的靈活性,以便支援更廣泛的應用,進而達到降低製造成本的目標。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「我們的客戶一直渴望擁有可擴充的模組化多通道天線陣列測試解決方案。它必須能在窄頻範圍內提供出色的靈敏度,而且將來可擴充為寬頻量測解決方案。新的參考解決方案可對所有輸入通道提供相位同調取樣;範例軟體樣板,包括相對振幅;以及相位量測,讓客戶能夠消除測試瓶頸,逐一對大型相位陣列天線進行快速的元件校驗。」

多通道天線校驗參考解決方案可在5槽式機箱內將數位轉換器通道數從8個擴充到40個(14插槽機箱的擴充性更高)。此外,它提供超穩定的同調通道(通道之間的相位差不到1度)、靈活的頻寬分析能力(使用DDC時300 MHz、無DDC時600 MHz),以及每秒高達1百萬次的窄頻量測。

安捷倫參考解決方案還包括各種工具程式,例如專為特定應用高度客製化的範例程式原始碼,讓使用者能夠極致發揮其測試系統的性能。安捷倫已證實其參考解決方案不僅讓工程師能夠快速評估適合某些特定應用的測試解決方案,同時還可大幅縮短將全新的測試系統整合在測試環境的時間。





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