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安捷倫多通道PXI測試方案加速LTE/LTE-A波形分析

上網時間: 2014年07月17日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:LTE  LTE-Advanced  PXI  MIMO  波形分析 

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣佈推出 LTE / LTE-Advanced 多通道 PXI 測試解決方案,可加速多通道測試系統配置,讓工程師能夠更深入了解複雜的載波聚合和空間多工 MIMO 設計。

設計和評估用於基地台、微型基地台(microcell)、特微型基地台(picocell)、中繼器及行動裝置中的元件和射頻子系統,已變得越來越複雜,因為工程師需針對多天線系統設計進行極其複雜的多通道測試配置。

安捷倫新的測試解決方案提供高效能工具,以協助工程師產生複雜的 LTE / LTE-A 多通道/ MIMO 波形,並同時在頻域和調變域中進行多通道分析。該解決方案提供簡單易用的圖形操作介面,可縮短建立測試配置的時間。此外,其量測設定可將 LTE / LTE-Advanced MIMO 和載波聚合配置最佳化。

該測試解決方案的機箱背板觸發工具可用來配置和路由背板觸發器,以便讓多達兩個 PXIe 機箱的 MIMO 配置維持適當的時間同步。藉由使用Agilent M9381A 射頻 PXIe 向量訊號產生器和 M9391A PXIe 向量訊號分析儀,工程師可輕鬆測試時間同步的 MIMO (2x2或4x4)。這些儀器提供小於0.38%的 EVM ,並且在通道間維持不到20nsec的時間同步。另一方面,高達160MHz的訊號產生和分析頻寬可支援最寬的 LTE-Advanced 載波聚合應用。





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