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Advantest電源供應模組提升T2000測試平台效益

上網時間: 2014年07月25日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:T2000  電源供應模組  DPS150AE  MPU  ASIC 

愛德萬測試(Advantest)宣佈推出 T2000 增強型元件電源供應模組 DPS150AE (Enhanced Device Power Supply 150A),滿足 T2000 測試平台客戶對於微處理器 (MPU)、 ASIC 、 FPGA 等高電流與低電壓半導體的高度精確測試需求。

DPS150AE 模組將有助於 T2000 平台以最低測試成本提升高產能、多組元件同測的測試效能。

DPS150AE 模組可大幅提升 T2000 EPP 系統的測試多功能性,目前提供直接隨附安裝,或在購入 T2000 EPP 系統後另行添購升級原系統。這套模組採用高速匯流排技術,並結合愛德萬測試的 Smart Test Condition Memory (TCM),讓 T2000 EPP 系統能夠進行模組分割,以一個模組平行同測多個元件,同時分別監控評估每個待測物。

此外, DPS150AE 還能隨需設定測試條件,再透過TCM 快速調整測試,測試工程師不僅可預先載入所有測試程式的參數,也能進行編輯,根據圖形立即更改設定。

DPS150AE 針對高低電流各提供八個通道,高電流通道最高支援16安培大電流輸出,低電流通道最低支援2.66安培電流輸出。 DPS150AE 另有一項功能可並行連結外部多達80個高電流通道,每個通道輸出16安培,共可產生1,280安培。

愛德萬測試SoC測試事業執行董事暨執行副總裁岡安俊幸博士表示:「這套全新元件電源供應模組具備極高並行同測能力,支援多個電源域,可快速測試各種不同IC,成本效益極高,讓客戶能夠靈活應用,降低測試成本,加速開發出最新元件設計。」

DPS150AE 模組預計八月開始出貨。





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