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NI PXI架構測試系統降低半導體AT成本

上網時間: 2014年08月11日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:半導體測試系統  STS  PXI  自動化測試系統  RF 

美商國家儀器(NI)推出半導體測試系統(STS) 系列。基於 PXI 架構的 STS 自動化測試系統針對半導體生產測試環境的 PXI 模組,有助於降低 RF 和混合式訊號裝置的測試成本。

相較於傳統的半導體自動化測試設備(ATE), STS 先期使用者證實新系統有助於降低生產成本、提高產能,而且還可透過相同的硬體和軟體工具同時執行特性測試與生產作業,從而快速設立資料關聯並縮短上市時間。

不同於傳統 ATE 的封閉式架構,STS 具有開放式的模組化架構,可協助工程師運用先進的 PXI 儀器。這對 RF 和混合式訊號測試而言尤其重要,因為傳統 ATE 的測試範圍通常無法滿足最新半導體技術的需求。

STS 搭載 TestStand 測試管理軟體和 LabVIEW 系統設計軟體,針對半導體生產環境提供了豐富的功能組合,包含可客制化的作業介面、分類機/針測機整合、裝置為主的程式設計和針腳-通道配置、標準測試資料格式報表製作、整合式多地點支援等等。有了這些功能,工程師即可迅速開發測試程式、加以除錯並完成部署,縮短整體的上市時間。此外 STS 還配備了全封閉式的「零佔用空間」測試頭、標準銜接與連結機構,可立即整合至半導體生產測試單元。

STS 系列提供三種不同的機型:T1、T2、T4,分別容納了 1、2、4 個 PXI 機箱。這些尺寸選項,再加上所有 STS 機型通用的軟體、儀控和互連機構,可協助工程師充分滿足不同的針腳和地點數量需求。此外,便於擴充的 STS 還可以部署至特性測試甚至是生產環境,藉此最佳化成本效益、大幅簡化設立資料關聯的程式,進而縮短上市時間。

為了協助客戶順利達成目標,NI 提供豐富的教育訓練、產品與服務,同時還有全球 NI 工程專家和 NI 聯盟夥伴的強力支援。





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