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愛德萬MPT3000系統獲SSD大廠採用

上網時間: 2014年08月20日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:MPT3000  固態硬碟  SSD  V93000  HDMI 

愛德萬測試宣佈,甫於今年六月推出的全新測試系統 MPT3000 已陸續接獲多家知名固態硬碟(SSD)大廠訂單並成功完成安裝,投入即將推出的下一代 SSD 裝置測試製程。此外,該公司第1,000台 V93000 Smart Scale 測試平台也在近日向長期合作客戶Amkor Technology出貨。

同時具備多通訊協定測試能力的 MPT3000 ,性能優異、軟體簡單易用,可快速安裝立即應用於測試製程,再加上愛德萬測試堅實的全球支援服務,因而獲得客戶青睞。除了應用於 PCIe Gen 3 NVMe 企業級 SSD 測試外,現在此系統也進一步協助客戶加速 SSD 產品開發與量產。

MPT3000 結合愛德萬測試在高速系統單晶片(SoC)測試領域的專業技術與先進電子架構,具備傳輸速率高達12 Gbps的專利硬體加速能力與效能,為SSD市場提供了高效益測試解決方案。 MPT3000 支援多種通訊協定測試並提供強大並行同測能力,可對各式 SSD 裝置進行全方位效能測試,從半高、全高 PC 介面卡、2.5吋硬碟、 M.2 固態硬碟到各種客製化尺寸裝置均可測試。

晶圓封測大廠採用愛德萬測試平台執行高速低成本測試,滿足最新一代消費性連接IC的測試需求

愛德萬測試並宣佈第1,000台 V93000 Smart Scale 測試平台已向長期合作客戶Amkor Technology出貨。Amkor將部署配置含有 Pin Scale 1600 與 Pin Scale 9G 量測模組的 V93000 測試平台,為Silicon Image最新一代支援高畫質多媒體介面(HDMI)與行動高畫質連結(MHL)技術的半導體產品打造具成本經濟效益的測試解決方案。

基於V93000系統可擴充式的設計,機台的配置可依不同速度、類比及射頻 (RF) 量測所需的效能而調整,以滿足每位客戶對於各類型低成本元件獨特的測試需求。 V93000 Smart Scale各級測試機台彼此相容,客戶可隨時視IC產量和測試之需,在不同等級平台間換用。

V93000測試平台廣受Amkor在內的全球晶圓封測代工廠所使用,其通用接腳架構提供了先進半導體設計最具靈活彈性與經濟效益的測試解決方案。藉由愛德萬測試 Pin Scale 1600 數位量測模組,每個數位通道將可提供業界最多元的功能,以滿足待測物的測試要求。

愛德萬測試以創新技術使每個針腳皆可依其個別時脈獨立運作,精確地提供符合待測物所需的資料傳輸率,以確保完善的測試覆蓋率。 V93000 因此可執行電源供應調變、訊號抖動注入、協定通訊等許多關鍵功能,並可在自動化測試設備 (ATE)上模擬系統壓力測試(System-Like Stress Test)。





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