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是德科技參考解決方案簡化下一代PA模組量測

上網時間: 2014年09月22日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:射頻  功率放大器  PA  特性分析  PXI 

是德科技(Keysight Technologies Inc.)日前宣佈推出適用於射頻功率放大器(PA)特性分析和測試的全新 PXI 參考解決方案,讓工程師能藉由執行S參數、諧波失真、功率和解調變等量測,對功率放大器雙工器(PAD)等下一代功率放大器模組,進行快速而徹底的特性分析。

該參考解決方案經過最佳化,以提供更快的量測速度和更高的量測準確度。這套功能齊備的小尺寸 PXI 參考解決方案,是唯一專為射頻功率放大器特性分析而設計解決方案。現在,工程師可在設計驗證和產品測試階段,輕而易舉地對射頻功率放大器及週邊所有被動元件,例如濾波器和雙工器,進行全面的特性分析。

該參考解決方案的數位預失真(DPD)演算法奠基於是德科技與無線裝置製造商多年的緊密合作關係,以及Keysight SystemVue 模擬軟體和 N7614B Signal Studio for Power Amplifier Test 應用軟體所提供的洞察力,使其成為業界唯一能在從模擬到製造階段,提供一致量測結果的解決方案。

除了經驗證的 DPD 演算法、查找料表(LUT)及記憶多項式功能外,該解決方案還提供多項獨特的功能,例如波封追蹤(ET)測試、快速波形下載、精準同步和自動校驗等,這些全都是ET測試不可或缺的關鍵特性。新的參考解決方案可支援不同廠商的產品,例如 Signadyne SD AOU-H3353 單槽式高速 PXIe AWG ,並提供最快的波封產生能力,以及最佳的測試空間利用率。

此外,新的 M937xA PXIe 向量網路分析儀和 M9393A PXIe 高效能型 VSA 提供重要的高密度、高速S參數量測,並支援頻率高達27 GHz的高速諧波失真測試,可充分滿足客戶的特性分析需求。

是德科技新推出的參考解決方案具有專為 PA 特性分析最佳化的開放範例原始碼,可協助工程師快速評估測試配置,並縮短首次量測時間。有了 DPD 和 ET 等新功能,工程師可顯著改善裝置性能、縮小元件尺寸,並且降低測試成本、複雜度和測試要求。不僅如此,工程師可將更多功能整合入 PAD 模組,並可利用小型測試系統來量測多個裝置或複合裝置。

是德科技的模組化產品和參考解決方案提供值得信賴的量測技術與校驗結果,讓使用者能夠信心滿滿地進行測試。從研發到製造階段,該參考解決方案皆提供一致的量測結果,讓客戶能加速設計週期並締造銷售佳績。

PAD 具有低功耗、高效率、卓越價值等優異特性,因而變得愈來愈受歡迎,目前已逐漸取代傳統的功率放大器架構。藉由採用 PAD 架構,元件設計工程師可提昇測試空間利用率,並可用一個小尺寸模組取代多個獨立的元件。近來,全球LTE網路部署風潮方興未艾,因而帶來增加頻段數的需求。在此情況下, PAD 迅速受到了元件設計工程師的青睞。





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