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NVIDIA安裝Meridian WS-DP晶圓電氣失效分析系統

上網時間: 2014年10月01日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Meridian  WS-DP  晶圓診斷  10奈米  電氣失效分析 

DCG Systems, Inc.宣佈NVIDIA公司率先安裝了 Meridian WS-DP (WaferScan Direct Probe)系統。NVIDIA選擇 Meridian WS-DP 是基於該系統能夠在生產中提供全方位的晶圓診斷和檢測,因而大幅提高16/14奈米和10奈米技術的開發和生產速度。

達到高良率目標所需要的時間(time-to-yield)是半導體企業獲利能力的關鍵。先進的代工企業、積體電路製造企業和無晶圓廠企業已無法承受傳統電性失效分析工具的侷限性。傳統分析工具僅能在切割和封裝階段中分離出關鍵的電性故障。 Meridian WS-DP 則不存在這種侷限。該系統利用量產測試機、測試板及探卡對整個晶圓進行光學電性失效分析(EFA),大幅加速了故障定位的速度。此外,該系統使用量產晶圓測試程式,確保準確的故障定位精密度同時更快的設立無晶圓廠製造商和他們的代工廠之間工作流程。

Meridian WS-DP 系統是 Meridian 電性失效分析系統產品線的最新產品。Meridian 電性失效分析系統系列產品已廣泛應用於技術開發、設計除錯、產能和良率提升、以及客戶返修品的故障分析等。 Meridian WS-DP 系統具備 Meridian 系列產品的所有分析功能,包括 LVx、 EMMI 、 LADA 和 OBIRCH 等。





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