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愛德萬先進測試系統瞄準高畫質LCD顯示驅動IC

上網時間: 2014年11月04日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:顯示驅動IC  DDI  T6391  內嵌控制功能  測試 

為因應新一代顯示驅動IC (DDI)市場三大關鍵趨勢──顯示驅動元件接腳數日趨增加、介面速度日益攀升以及功能高度整合化,半導體測試設備領導者愛德萬測試全新推出 T6391 系統,滿足新一代顯示驅動IC及高畫質液晶顯示面板內嵌控制功能的測試需求。

有鑑於高階 DDI 採高度整合技術,所面臨的測試挑戰有其獨特性,以內建液晶顯示器觸控感測器功能的顯示驅動IC來說,其所需測試的邏輯/類比電路數是相當龐大的。在可預見的未來內,不僅電源管理IC (PMIC) 功能將可能整合於顯示驅動IC中,智慧型手機、平板電腦、筆記型電腦等行動裝置上的液晶顯示器面板應用,也會持續成長,在市場需求帶動下,輕薄短小與功能多元化,已是元件未來趨勢。

愛德萬測試 T6391 系統是一款可同時滿足目前與未來所有測試需求的平台,這套全新系統傳承原有 T6300 系列產品之工程環境模型,以已累積逾1,500台實績的 T6300 系列技術做為基礎,採用相同 TDL 程式語言,提升資料傳輸與運算速度,達成更高產出效率。

T6391 採用高速匯流排達成高測試產出,並以512個I/O通道設計,提供多晶片並列同測,且可支援多達3,584支 LCD 接腳的高解析度顯示驅動IC測試,這些規格將足以測試目前市場上最高接腳數的 LCD ,包括全高解析度(HD)、 WXGA 以及 HD720 顯示器。

T6391 可處理的 I/O 接腳頻率最高達1.6 Gbps,能滿足採用行動電子產品標準通訊協定──行動產業處理器介面 MIPI 的 LCD 測試需求,再搭配另一套量測模組後,甚至可測試高達6.5 Gbps、新一代4K (2160p) 等超高畫質電視將使用的LCD驅動器傳輸介面。

T6391亦提供16個通道任意波形產生器(AWG)與數位擷取功能,以支援類比IC測試;此外,透過此系統的掃描圖樣產生器(SCPG)、演算圖樣產生器(ALPG) 以及演算失效記憶體(AFM) 模組,將可針對內建觸控感測器功能的顯示驅動IC,執行掃描與記憶體測試。

T6391測試系統生產單元預計於今年年底開始出貨。





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