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安立知完成GCT LTE-A單晶片4×4 MIMO測試

上網時間: 2015年04月27日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:LTE-Advanced  訊令測試儀  FDD-TDD LTE  4×4 MIMO  載波聚合 

安立知(Anritsu)MD8430A訊令測試儀與Rapid Test Designer(RTD)軟體,成功為GCT半導體 (GCT Semiconductor)完成其 4G LTE-Advanced晶片(GDM7243Q)測試。

GCT 半導體為先進 4G 行動半導體解決方案設計供應商,提供搭載全球首款支援長程演進計畫(LTE)4×4 MIMO 載波聚合(CA)技術的先進分頻雙工(FDD)-分時雙工(TDD)LTE Cat. 5/6/7 單晶片解決方案。GCT GDM7243Q 晶片的運作及其 4×4 多重輸入多重輸出(MIMO)功能已通過安立知的訊令測試系統測試。4×4 MIMO是指在LTE基地台使用4支發射天線,並在用戶設備(UE)裝置內建4支接收天線,以便提高頻譜效率,實現更高資料傳輸量以及改善覆蓋範圍。

安立知的MD8430ALTE訊令測試儀可模擬多達8支發射天線的基地台。GCT的研發團隊採用以安立知RTD軟體控制的MD8430A測試儀,在4×4 MIMO連線下以高達300Mbit/s的速率進行傳輸,並驗證其晶片能夠在更長的時間週期下保持穩定的連接。





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