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是德PCIe Gen3試驗器內建L1子狀態驗證軟體

上網時間: 2015年08月05日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:PCIe Gen3  NVMe  L1子狀態  協定試驗器  旁波帶訊號 

是德科技(Keysight Technologies)推出Keysight U4305B PCI Express協定試驗器,以協助工程師加速開發PCIe Gen3系統。U4305B試驗器提供各式各樣的PCIe測試工具,可用來驗證所有鏈路(多達16個)的Gen1、Gen2和Gen3運作效能。這些工具可滿足PCIe開發人員的廣泛需求,所提供的測試方法可測試NVMe(Non-Volatile Memory Express)和L1子狀態運作等新技術。

在部署PCIe的初期階段,開發人員就必須持續關注低功率狀態這項重要特性。現在,PCIe為測試超低功耗(稱為L1子狀態)制訂新標準。該標準使用旁波帶訊號CLKREQ,可關閉時脈甚至消除保持電壓(Keeper Voltage),讓新的PCIe裝置能提供高功率水準。Keysight U4305B試驗器以驗證這些低功耗特性為設計宗旨。內建的測試平台方便工程師對PCIe或NVMe操作部署自動化測試。該測試平台配有腳本程式,可驗證ASPM或PCI-PM L1子狀態的操作。這些預先編寫的測試腳本可針對各種狀態提供試驗,以獲得關於控制暫存器操作,和每個進入L1子狀態/恢復操作的通過/不通過測試結果。

Keysight U4305B還提供LTSSM測試套件,讓工程師能執行鏈路協商測試,進而對待測物(DUT)的 LTSSM 功能進行全方位測試。此外,它還可驗證PCIe狀態轉換和狀態逾時,最多可提供超過50種預設LTSSM測試,以便深入評估DUT的運作。

測試NVMe時,Keysight U4305B試驗器可模擬主機或裝置,以便送出並執行NVMe命令,或是產生錯誤測試序列。透過標準化的NVMe測試,開發工程師不僅可改善裝置之規格相符性、增強其互通性,同時還可經由各項測試深入洞察裝置的運作情形,進而縮短測試時間。是德科技採用美國新罕布夏大學(UNH)互通性實驗室(IOL)所定義的NVMe相符性測試。這些測試可提供「通過/不通過/警告」等測試結果,以及詳細的診斷資訊,以便改善NVMe驗證品質。

是德科技另亦提供PCI-SIG定義的協定測試卡,讓工程師能獲得完整的通過/不通過測試結果,以便驗證PCIe裝置之運作情形。PCI-SIG測試插拔大會亦使用相同的PTC測試套件。

工程師可配置Keysight U4305B試驗器,藉以對傳統和新一代PCIe裝置的子協定層進行測試和除錯。U4305B PCIe試驗器是先進的訊務產生器,方便開發工程師發送和回應TLP、DLLP和實體層封包,以激發PCIe裝置和系統。

Keysight U4305B 還能夠與U4301B PCIe協定分析儀等其他儀器搭配運作,以建構完整的測試系統。工程師可以同步分析儀和試驗器的測試運作,甚至可用U4301B分析儀擷取資料,然後在U4305B試驗器中播放。

是德科技針對PCIe分析儀和試驗器提供增強特性,讓工程師能獲得更齊備的測試工具。例如,是德科技加入L1子狀態測試、資料播放和測試同步,以支援更全面而深入的PCIe裝置測試與驗證。





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