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愛德萬發佈V93000平台全新量測模組

上網時間: 2015年08月21日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:高速記憶體  單接腳  量產測試  電纜傳輸衰減量  上升時間 

愛德萬(ADVANTEST)測試推出測試速度最快且完整整合的測試量測模組HSM16G。此套量測模組是在V93000 HSM測試系統系列的基礎上延伸高速測試功能,向上支援原生傳輸速率16Gbit/s,以滿足超高速記憶體IC原速測試需求。

HSM16G量測模組的面市使愛德萬測試成為自動化測試設備業界第一家提供整合式測試解決方案的供應商,這套整合式元件解決方案可支援現今最高速GDDR5與未來GDDR5X IC平行資料匯流排高達16 Gbit/s的開發工程、偵錯與量產測試

全新HSM16G量測模組完整具備所有記憶體測試功能,包括:單接腳(per-pin)運算圖樣產生功能,可測試任何形式的故障運算,並提供故障圖形抓取;單接腳精確度時脈抖動可至1微微秒(picosecond)以下,為業界精準度最高的抖動量測;內建執行元件特性與壓力測試所需的單接腳任意抖動調變功能、一組整合式分析工具,同時提供全方位量測套件,以供全面性元件特性量測;可編程的等化功能可補償電纜傳輸衰減量(Cable Loss)、控制上升時間(Rise Time),讓訊號在開發工程與量產階段保有最佳完整性;每支接腳個別內嵌的搜尋功能可快速對準資料眼圖中心、加速眼圖量測,分析出眼圖高度及寬度;應用於抖動量測的內建整合式時間量測單元(TMU)則提供一組量產測試主要功能。

記憶體IC無論採用序列匯流排介面(如PCI Express,PCIe),或是通用快閃記憶體(UFS)標準,HSM16G量測模組均提供了完整物理層測試 (PHY特性) 功能,以同時符合高速序列介面與高速平行記憶體匯流排記憶體元件之需。

HSM16G量測模組與V93000 HSM系列的軟硬體完全相容,客戶可選擇按出廠設定直接安裝,或是更改設定以配合既有測試系統。在其無縫延展架構下,HSM測試系統所有原有測試程式都能繼續使用,使用者只需要逐步累積HSM16G應用知識,很快便能輕鬆適應,DRAM元件高速測試產能也能翻倍提升。

HSM16量測模組測試速度最高可達16Gbit/s,為目前市場同級產品之冠。市面上其他測試系統面對現今速度最快的記憶體IC,為彌補其功能不足,必須採用複雜的多工測試,也就是利用兩個10 Gbit/s的通道加上附加解決方案,才能達到所需的測試速度。但後續的多工程序確讓演算法圖樣產生器在產生圖樣時受到極大限制,而且僅能有少數功能可供元件特性量測與偵錯之用。HSM16G原生的16 Gbit/s速度即能避免上述問題。V93000平台搭載完整整合的HSM16G 量測模組將可提供市場上最廣泛的高速記憶體測試功能。





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