Global Sources
電子工程專輯
 
電子工程專輯 > 測試與測量
 
 
測試與測量  

Mentor Graphics發佈最新Tessent ScanPro 產品

上網時間: 2015年10月19日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:IC  測試資料量  EDT  故障模型  DRC 

Mentor Graphics推出新款Tessent ScanPro產品,該產品採用的技術可以顯著減少使用Tessent TestKompress ATPG壓縮方案的測試資料量。由於測試資料量很大程度上決定了測試積體電路(IC)的成本和時間,因此Tessent ScanPro產品可幫助晶片製造商以更快、更具成本效益的方式交付他們的產品。

Tessent ScanPro 產品的關鍵技術—Embedded Deterministic Test(EDT)Test Points,應用局部電路修改,可以減少測試向量生成過程中出現的衝突。由此,可以提升測試向量的生成效率,進而顯著減少測試資料量。EDT Test Point可有效地減少使用各種故障模型(Fault Model)所生成的測試向量,包括來自Mentor 的Cell-Aware Fault Model。

Tessent ScanPro產品可在不影響設計性能或計畫的前提下,為插入EDT Test Points提供自動化操作。分析和插入步驟可輕鬆融入到任何DFT流程中。測試點位置經過精心挑選,不會影響時序收斂。此外,用戶還可依據所需,利用工具指令控制測試點所在。

Tessent ScanPro 產品也提供一整套高級掃描 DFT 功能。藉由添加最有效的掃描架構,將gate-level電路轉化成可進行掃描測試和測試資料壓縮的設計。並且,還可分析設計可能存在的測試限制、執行測試相關的設計規則檢查(DRC),並在需要時自動糾正錯誤。此外,Tessent ScanPro 產品還支援為階層化DFT,插入專用和共用的包裝單元(wrapper cells)。





投票數:   加入我的最愛
我來評論 - Mentor Graphics發佈最新Tessent ScanP...
評論:  
*  您還能輸入[0]個字
*驗證碼:
 
論壇熱門主題 熱門下載
 •   將邁入40歲的你...存款多少了  •  深入電容觸控技術就從這個問題開始
 •  我有一個數位電源的專利...  •  磷酸鋰鐵電池一問
 •   關於設備商公司的工程師(廠商)薪資前景  •  計算諧振轉換器的同步整流MOSFET功耗損失
 •   Touch sensor & MEMS controller  •  針對智慧電表PLC通訊應用的線路驅動器
 •   下週 深圳 llC 2012 關於PCB免費工具的研討會  •  邏輯閘的應用


EE人生人氣排行
 
返回頁首