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NI自動化測試展望掌握智慧測試系統大勢

上網時間: 2016年03月02日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:自動化測試  連線裝置  毫米波  mmWave  測試系統 

國家儀器(National Instruments;NI)發表2016年自動化測試展望。這份測試與量測年度報告提供完整概觀,證實隨著連線裝置普及的今日,自動化測試環境也將進入下一個世代;包括毫米波(mmWave)通訊測試的準備作業,以及如何有效運用製造測試資料來提升商務表現等重大自動化測試趨勢剖析。

「NI致力於推動優異的自動化測試系統,與客戶和供應商密切合作,藉此掌握製造與測試部門所面臨的關鍵議題」,NI自動化測試行銷總監Luke Schreier表示:「不論您的挑戰是測試超大量的物聯網裝置,或是管理已使用20年的測試系統,我們的目標就是激起貴組織內的對話火花,進而幫助您降低測試成本,並且遙遙領先競爭對手。」

2016年自動化測試展望報告囊括了下列主題:

•運算:剖析生產測試資料。半導體公司率先採用Real-Time資料分析,藉此降低製造測試成本。

•軟體:生命週期管理的關鍵在於軟體。只要是長期專案,就會面臨產品汰換、OS不斷更新、相容性等狀況,這些都是值得重新探討的舊問題。

•架構:測試管理軟體的崛起。隨著新的程式設計語言大量出現,現成的測試執行檔可說是有效的解決方案。

•I/O:特性測試與生產測試的平台標準化。RFIC公司可在產品設計週期中重複使用 IP 並完成硬體標準化,藉此降低成本、幅縮短上市時間。

•商務策略:測試策略的毫米波(mmWave)新浪潮。測試工程師採用模組化解決方案,透過符合經濟效益的方式檢驗高頻率元件。





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