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是德MOI支援USB Type-C纜線相容性測試

上網時間: 2016年05月04日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:MOI  USB Type-C  相容性測試  CTS  纜線組件 

是德科技(Keysight Technologies)日前宣佈發表新的實作方法(MOI)指南,以協助工程師根據USB Type-C規格1.1版和USB Type-C相容性測試規格(CTS)1.0版,進行纜線組件相容性測試。

新的USB Type-C MOI,加上是德科技狀態檔等測試套件,可與Keysight M937xA PXIe多埠向量網路分析儀(VNA)搭配運作,以便為工程師提供USB Type-C相容性測試解決方案。另外,該實作方法也針對時域和頻域量測提供按部就班的完整指引,以便簡化相容性設定和測試。

隨著使用者的頻寬需求不斷升高,高速數位標準也持續演進,以支援更高的資料速率。相較於目前的5Gbps USB 3.0規格,10Gbps USB 3.1規格可提供兩倍以上的實際資料速率。然而,資料速率的快速提高,使得工程師面臨更嚴格的實體層測試要求,以確保裝置的互通性。高速數位纜線組件帶來的量測挑戰之一就是多埠量測。

Keysight M937xA PXIe多埠VNA具有全N埠校驗和固有的頻域量測功能,可實現真正的多埠量測。針對USB Type-C纜線組件測試,工程師可配置M937xA,以便支援12埠量測和300kHz至15GHz的頻率,進而產生S12P touchstone檔案,最後使用USB-IF相容性測試工具來進行分析。藉由使用M937xA VNA的12埠配置來產生S12P檔案,頻域量測時間可大幅縮短至僅僅20秒。

Keysight M937xA向量網路分析儀是全球速度最快的PXI VNA,在單一PXI插槽中配備了全雙埠VNA,並支援300kHz至26.5GHz的多埠量測。Keysight M937xA PXIe VNA採用和是德科技可信賴的PNA和ENA VNA相同的量測科學,可提供媲美機箱式VNA的量測準確度、大於114dB的動態範圍、低於0.003dB的軌跡雜訊和0.005dB/degree的穩定度。為滿足未來的多埠量測需求,PXIe VNA最多可將單一機箱的VNA模組數擴充為16個,以支援最多32埠的完全修正多埠量測。





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