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TEM材料分析技術可達5奈米

上網時間: 2016年06月21日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:材料分析  MA  IEEE  5奈米  IPFA 

隨半導體產業朝更先進製程發展之際,宜特(iST)材料分析(Material Analysis,MA)檢測技術再突破。宜特宣佈,TEM材料分析通過國際級客戶肯定,驗證技術達5奈米製程。

宜特近期不僅協助多間客戶在先進製程產品上完成TEM分析與驗證,其技術能量更深獲IEEE半導體元件故障分析領域權威組織IPFA(International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits,積體電路失效分析論壇)肯定,連續數年通過大會審核,於期間發表最新研究成果。

宜特觀察發現,近年來,企業為了打造效能更高、功耗更低、體積更小的半導體元件以滿足現今智能產品之需求,各大廠在先進製程開發的腳步越來越快,已從前年20奈米、去年14奈米製程,陸續在今年往10奈米、7奈米製程進行量產準備;而多家半導體大廠,今年更已朝5奈米製程進行研發藍圖,因此帶動整個供應鏈的材料分析需求。





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